VIII産業の基盤技術の維持・安定正確かつ最新の精密測定情報を社会に提供すること。 最高の技術で、産業の発展に貢献すること。私たちミツトヨは、精密測定機器のご提供と校正サービスを通じて、技術革新を続ける産業界の基盤技術の維持・確立のお手伝いをさせていただいております。1. 全世界のキャリブレーションラボラトリ日本国内では、各生産部門において、主管する商品の検査・校正を実施しております。 また、宇都宮・川崎・広島の各キャリブレーションセンタおよび各地域のサービス拠点においてもネットワークを形成し、測定工具から機器商品までの校正を実施しております。さらに、海外においても各国・地域の弊社現地法人がキャリブレーションラボを設置し、校正を実施しております。校正を実施し、JCSSシンボル付の校正証明書を発行することができる制度です。計量標準室 計量標準キャリブレーション課、宮崎工場、営業サービス統括本部、および各キャリブレーションセンタは、JCSS登録事業者として、 ISO/IEC 17025に適合した校正を実施しております。弊社が発行するJCSSシンボル付の校正証明書は、ILAC（国際試験所認定協力機構）およびAPAC（アジア太平洋認定協力機構）を通じて国際MRA（相互承認協定）に署名している国または経済地域内で有効です。認定取得品目と拡張不確かさは、下表をご参照ください。■ISO/IEC 17025認定取得の種類と拡張不確かさ宮崎工場JCSS0030営業サービス統括本部JCSS0186広島キャリブレーションセンタJCSS0109計量標準室 計量標準キャリブレーション課JCSS0067川崎キャリブレーションセンタJCSS0086宇都宮キャリブレーションセンタJCSS0031種類校正範囲拡張不確かさ（k=2）注11長さ用レーザ633 nmおよび532 nm領域の波長1.1×10-132ブロックゲージ0.1 mm以上 100 mm以下100 mm超 250 mm以下250 mm超 1000 mm以下0.020 µm（0.010+0.00010・L）µm（0.020+0.00020・L）µm3標準尺350 mm以下350 mm超 1000 mm以下（0.10+0.12・L/1000）µm（0.06+0.25・L/1000）µm4段差ゲージチェックマスタ、キャリパチェッカ、内側マイクロチェッカ2100 mm以下（0.18＋0.38・L/1000）µm段差マスタ1 mm以下0.030 µmデプスマイクロチェッカ0.5 mm以上 300 mm以下（0.5+L/1000）µmハイトマスタ1000 mm以下（0.5+L/1000）µm5マイクロメータ基準棒25 mm以上 1000 mm以下（0.4+L/1000）µm6円筒端面ゲージ25 mm以上 500 mm以下（0.5+L/1000）µm7リングゲージ6 mm以上 80 mm以下80 mm超 120 mm以下0.7 µm0.8 µm8球（平均直径）2 mm 以上 10 mm 未満10 mm 以上 40 mm 以下0.06 µm（0.024+2.6・L /1000）µm9ダイヤルゲージ校正器5 mm以下5 mm 超 25 mm以下25 mm超 100 mm以下0.10 µm0.3 µm（0.1+4.8・L /1000）µm10マイクロメータ（マイクロメータヘッドを含む）25 mm以下（マイクロメータヘッドに限る）0.3 µm500 mm以下（1.2+L/175）µm11指示マイクロメータマイクロメータ部：100 mm以下インジケータ部：±0.06 mm（0.9+L/250）µm（0.3+L/125）µm12ノギス600 mm以下600 mm 超 1000 mm 以下0.02 mm0.03 mm13ハイトゲージ600 mm以下600 mm超 1000 mm以下0.015 mm0.020 mm14デプスゲージ600 mm以下600 mm超 1000 mm以下0.02 mm0.03 mmL ＝ 測定長さ （mm） 2021年1月現在種類校正範囲拡張不確かさ（k=2）注115ダイヤルゲージ5 mm以下10 mm 以下10 mm超 50 mm以下50 mm超 100 mm以下0.5 µm1.1 µm1.3 µm2.2 µmデジタル式 50.8 mm 以下50.8 mm超 100 mm以下1.1 µm1.7 µm16てこ式ダイヤルゲージ0.6 mm以下1.6 mm以下0.5 µm1.2 µm17シリンダゲージ6 mm以上 400 mm以下0.7 µm18電気マイクロメータ±5 µm±200 µm±2000 µm0.15 µm0.2 µm1.0 µm19座標測定機（画像測定機を含む）61 mm以下650 mm以下1000 mm以下10000 mm以下注2（0.1+0.6・L/1000）µm（0.13+0.11・L/1000）µm（0.2+0.2・L/1000）µm（0.1+0.6・L/1000）µm20校正用表面性状標準片 深さ0.3 µm以上 20 µm以下2×√‾‾6.‾70‾2‾‾＋‾ （‾‾2‾‾.‾7‾4‾‾×‾‾d‾）‾2 d＝深さ（µm）算術平均粗さ0.1 µm以上 5 µm以下 2×√‾‾6.‾82‾2‾‾＋‾ （‾‾2‾‾.‾7‾4‾‾×‾‾R‾a‾‾）2‾ Ra＝算術平均粗さ（µm） 最大高さ粗さ0.3 µm以上 20 µm以下2×√3‾5‾.‾82‾‾＋‾ （‾‾2‾‾.‾7‾4‾‾×‾‾R‾z‾‾）‾2 Rz＝最大高さ粗さ（µm）21触針式表面粗さ測定機算術平均粗さ Ra0.2 µm、0.5 µm、1.5 µm0.02 µm最大高さ粗さ Rz1.5 µm、2.0 µm、8.5 µm0.15 µm224線式白金抵抗温度計 （100Ω）注30℃以上40℃以下6 mk23指示計器付温度計0℃以上 40℃以下8 mk24ロックウェル硬さ標準片20 HRC以上25 HRC以下25 HRC超35 HRC未満35 HRC以上45 HRC以下45 HRC超55 HRC未満55 HRC以上65 HRC以下0.43 HRC0.44 HRC0.42 HRC0.39 HRC0.35 HRC25ロックウェル硬さ試験機20 HRC以上25 HRC以下25 HRC超35 HRC未満35 HRC以上45 HRC以下45 HRC超55 HRC未満55 HRC以上65 HRC以下0.45 HRC0.46 HRC0.44 HRC0.41 HRC0.37 HRC26ビッカース硬さ標準片85 HV以上1050 HV以下(試験力0.9807 N以上490.3 N以下)d > 193 µm 2.2%d ≦ 193 µm （228/d）+1.02%くぼみ対角長さ（但し、式中のdは µm）27ビッカース硬さ試験機85 HV以上1050 HV以下（試験力0.9807 N以上 490.4 N以下） d > 170 µm 2.4% d ≦ 170 µm（230/d+1.1）% くぼみ対角長さ（但し、式中のdはµm）注1 拡張不確かさ：登録事業者の技術能力の範囲で実現できる最小の不確かさであり、校正証明書に記載する不確かさとは異なる場合があります。注2 画像測定機は除きます。注3 抵抗値（R（T90））の温度換算値※最新の情報につきましては、弊社ホームページをご確認ください。国家標準と同等の性能が保証されている長さ標準（光周波数コム装置）を頂点としたミツトヨのトレーサビリティ体系とこれを支える優れた校正技術は、お客様へご提供する信頼性の高い製品の基盤となっております。ミツトヨは、光周波数コム装置を標準とする校正業務のJCSS認定事業者として登録されています。2. 認定事業者 ミツトヨは日本国内および海外の現地法人において、それぞれの国の認定機関から ISO/IEC 17025の認定を受けて測定機器の校正サービスを行っています。日本国内1993年、改正計量法に基づく計量法トレーサビリティ制度（JCSS）が設立されました。これは、国から認められた認定機関により認定・登録された校正事業者が、国家標準にトレーサブルな標準器を使用して測定機器の↑
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