>> P.表-10
産業の基盤技術の維持・安定校正を実施し、JCSSシンボル付の校正証明書を発行することができる制度です。計量標準室計量標準キャリブレーション課、宮崎工場、営業サービス本部、および各キャリブレーションセンタは、JCSS登録事業者として、ISO/IEC17025に適合した校正を実施しております。弊社が発行するJCSSシンボル付の校正証明書は、ILAC(国際試験所認定協力機構)およびAPAC(アジア太平洋認定協力機構)を通じて国際MRA(相互承認協定)に署名している国または経済地域内で有効です。認定取得品目と拡張不確かさは、下表をご参照ください。正確かつ最新の精密測定情報を社会に提供すること。最高の技術で、産業の発展に貢献すること。私たちミツトヨは、精密測定機器のご提供と校正サービスを通じて、技術革新を続ける産業界の基盤技術の維持・確立のお手伝いをさせていただいております。1.全世界のキャリブレーションラボラトリ日本国内では、各生産部門において、主管する商品の検査・校正を実施しております。また、宇都宮・川崎・広島の各キャリブレーションセンタおよび各地域のサービス拠点においてもネットワークを形成し、測定工具から機器商品までの校正を実施しております。さらに、海外においても各国・地域の弊社現地法人がキャリブレーションラボラトリを設置し、校正を実施しております。2.認定事業者ミツトヨは日本国内および海外の現地法人において、それぞれの国の認定機関からISO/IEC17025の認定を受けて測定機器の校正サービスを行っています。日本国内1993年、改正計量法に基づく計量法トレーサビリティ制度(JCSS)が設立されました。これは、国から認められた認定機関により認定・登録された校正事業者が、国家標準にトレーサブルな標準器を使用して測定機器の↑■ISO/IEC17025認定取得の種類と拡張不確かさ国家標準と同等の性能が保証されている長さ標準(光周波数コム装置)を頂点としたミツトヨのトレーサビリティ体系とこれを支える優れた校正技術は、お客様へご提供する信頼性の高い製品の基盤となっております。ミツトヨは、光周波数コム装置を標準とする校正業務のJCSS認定事業者として登録されています。計量標準室計量標準キャリブレーション課ションセンタJCSS0031宇都宮キャリブレー川崎キャリブレー広島キャリブレー宮崎工場JCSS0030営業サービスションセンタションセンタJCSS0186JCSS0067本部JCSS0086JCSS0109L=測定長さ(mm)2022年1月現在123456789101112131415種類長さ用レーザブロックゲージ標準尺段差ゲージマイクロメータ基準棒円筒端面ゲージリングゲージ球(平均直径)ダイヤルゲージ校正器校正範囲拡張不確かさ(k=2)※11.1×10-13(0.18+0.38・L/1000)µm0.020µm(0.010+0.00010・L)µm(0.020+0.00020・L)µm(0.10+0.12・L/1000)µm(0.06+0.25・L/1000)µm633nmおよび532nm領域の波長0.1mm以上100mm以下100mm超250mm以下250mm超1000mm以下350mm以下350mm超1000mm以下チェックマスタ、キャリパチェッカ、内側マイクロチェッカ2100mm以下段差マスタ1mm以下デプスマイクロチェッカ0.5mm以上300mm以下ハイトマスタ1000mm以下(0.5+L/1000)µm25mm以上1000mm以下(0.4+L/1000)µm25mm以上500mm以下(0.5+L/1000)µm6mm以上80mm以下0.7µm80mm超120mm以下0.8µm2mm以上10mm未満0.06µm10mm以上40mm以下(0.024+2.6・L/1000)µm0.10µm5mm超25mm以下0.3µm(0.1+4.8・L/1000)µm(0.5+L/1000)µm0.030µmキャリブレーションテスタ5mm以下(0.0002mm目盛)マイクロメータ(マイクロメータヘッドを含む)指示マイクロメータノギスハイトゲージデプスゲージダイヤルゲージインジケータ検査機100mm以下25mm以下(マイクロメータヘッドに限る)0.3µm500mm以下マイクロメータ部:100mm以下インジケータ部:±0.06mm600mm以下600mm超1000mm以下600mm以下600mm超1000mm以下600mm以下600mm超1000mm以下5mm以下(目量0.001mm及び0.002mm)10mm以下(目量0.01mm)10mm超50mm以下(目量0.01mm)50mm超100mm以下(目量0.01mm)50.8mm以下50.8mm超100mm以下1.1µm1.3µm2.2µm1.1µm1.7µmデジマチックインジケータ(1.2+L/175)µm(0.9+L/250)µm(0.3+L/125)µm0.02mm0.03mm0.015mm0.020mm0.02mm0.03mm0.5µmVIII拡張不確かさ(k=2)※10.5µm1.2µm0.7µm0.15µm0.2µm1.0µm(0.1+0.6・L/1000)µm(0.13+0.11・L/1000)µm(0.2+0.2・L/1000)µm(0.1+0.6・L/1000)µm2×√~~6.~70~2~~~~~2~~.~74~~~~d~~2d=深さ(µm)2×√~~6.~82~2~~~~~2~~.~74~~~~R~a~~2~Ra=算術平均粗さ(µm)2×√3~5~.~82~~~~~2~~.~7~4~~~~Rz~~~2Rz=最大高さ粗さ(µm)0.02µm0.15µm6mk種類てこ式ダイヤルゲージ(テストインジケータ)シリンダゲージ電気マイクロメータ座標測定機校正範囲0.6mm以下(目量0.001mm及び0.002mm)1.6mm以下(目量0.01mm)6mm以上400mm以下±5µm±200µm±2000µm(画像測定機を含む)61mm以下16171819202122校正用表面性状標準片触針式表面粗さ測定機4線式白金抵抗温度計(100Ω)※3指示計器付温度計ロックウェル硬さ標準片650mm以下1000mm以下10000mm以下※2深さ0.3µm以上20µm以下算術平均粗さ0.1µm以上5µm以下最大高さ粗さ0.3µm以上20µm以下算術平均粗さRa0.2µm、0.5µm、1.5µm最大高さ粗さRz1.5µm、2.0µm、8.5µm0℃以上40℃以下0℃以上40℃以下20HRC以上25HRC以下25HRC超35HRC未満35HRC以上45HRC以下45HRC超55HRC未満55HRC以上65HRC以下20HRC以上25HRC以下25HRC超35HRC未満35HRC以上45HRC以下45HRC超55HRC未満55HRC以上65HRC以下85HV以上1050HV以下(試験力0.9807N以上490.3N以下)85HV以上1050HV以下(試験力0.9807N以上490.4N以下)252324ロックウェル硬さ試験機8mk0.43HRC0.44HRC0.42HRC0.39HRC0.35HRC0.45HRC0.46HRC0.44HRC0.41HRC0.37HRCd>193µm2.2%≦193µm(228/)+1.02%dくぼみ対角長さ(但し、式中のdはµm)d>170µm2.4%≦170µm(230/+1.1)%dくぼみ対角長さ(但し、式中のdはµm)※1:拡張不確かさ:登録事業者の技術能力の範囲で実現できる最小の不確かさでビッカース硬さ標準片ビッカース硬さ試験機2726あり、校正証明書に記載する不確かさとは異なる場合があります。※2:画像測定機は除きます。※3:抵抗値(R(T90))の温度換算値注:最新の情報につきましては、弊社ホームページをご確認ください。
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