mitutoyo_総合カタログ_No13-53


>> P.N-17

座標測定機非接触レーザプローブSurfaceMeasure●超高速データ収集SurfaceMeasureは、レーザを測定物に照射しながら移動し、測定物表面の座標値を収集するプローブです。300,000点/秒※の超高速データ収集することができます。※:SurfaceMeasure1110使用時●非接触のメリット非接触なので、接触式では変形してしまうような樹脂や肉薄部品などの弾性体でも測定がすることができます。●フライングスポット形式は、エッジ部分の測定にも高い形状再現性を実現し、しかもクラス最高のスキャニング精度を達成しています。(SurfaceMeasure201FSの場合)●パウダレス測定環境や測定物材質にあわせた適切なレーザ強度やカメラ感度の設定を自動的に行うことで、パウダ・スプレーレス測定を実現しました。より簡単、快適なレーザスキャニング環境をご提供いたします。●評価事例収集した点群データは、各種編集・面生成・CADデータとの比較照合・CADデータ化など、豊富なオプションソフトウェアによって様々な用途に活用していただくことができます。カラーサンプル板の測定光沢物の測定4031110201FS110詳しくは、「SurfaceMeasure」CatalogNo.16000をご覧ください。N-17単位:mm201FS高感度・汎用測定57.55015147.523106.51002.5mW1110汎用測定(68)156.5267.5513040403汎用測定66183■測定領域■仕様レーザ照射方式測定幅測定深さワーキングディスタンススキャニング誤差※データ取得速度質量レーザクラス測定用レーザEN/IECJIS媒体波長出力SurfaceMeasureSurfaceMeasure4031110ラインレーザ40mm30mm66mm8µm60,000点/秒430g110mm100mm156.5mm9µm300,000点/秒440gClass2[EN/IEC60825-1(2014)]Class2[JISC6802:2014]赤色半導体レーザ660nm4mWSurfaceMeasure201FSフライングスポット最大23mm15mm57.5mm1.8µm25,000点/秒500g半導体レーザ670nm1mW※:弊社指定の検査方法による。1σ/球測定)、プローブ単体誤差


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