ミツトヨ精密測定機器 総合カタログNo.13-54版

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計測機器三次元測定機画像測定機形状測定機光学機器硬さ試験機白色光干渉計搭載画像測定機QVWLI ProQVWLI Proは、QVに白色光干渉計を搭載した複合型の高精度3D計測システムです。微細形状スキャニングプローブ搭載画像測定機MiSCAN Vision System画像測定ヘッドとスキャニングプローブ（MPP-NANO、SP25M）を搭載したハイブリッド画像測定機です。商品カタログはこちら商品カタログはこちら動画はこちら大型CNC画像測定機QV ACCEL本体構造に門移動を採用した大物測定用の画像測定機です。微細形状測定システムUMAP Vision System TYPE2最小径15 µmのスタイラスにより、微細領域の接触測定が可能です。微細領域から大きめのワークにも対応する汎用性を兼ね備えた高精度の微細形状測定機です。商品カタログはこちら商品カタログはこちら1212-11No.14001No.14024No.14028No.14000画像測定機高精度3D計測モデル座標寸法測定と3D形状の非接触測定を1台で実現しています。白色光干渉方式により、さまざまな測定表面に対応可能です。微細寸法測定モデル大型ワーク測定モデル本体を門移動構造にした大型測定用の画像測定機。ステージが移動しないため、ワーク固定を簡素化でき、軽薄短小ワークに適します。